你知道雷達物位計頻率怎么選嗎？

大多數要選購雷達物位計的用戶，對于雷達物位計頻率問題還是一知半解，甚至有人固執的認為頻率越高越好，去選購的時候就要求工程師給定制最高頻的產品。其實這是一個特別錯誤的認知，無論高頻還是低頻雷達物位計，都有自己的優點和不足之處，具體怎么選擇要看用戶自己的工況和測量介質而選。那么今天就簡單給大家講講雷達物位計頻率問題!

微波物位計使用的微波頻率有三個頻段：C波段(5.8~6.3GHz)、X波段(9~10.5GHz)、K波段(24~26GHz)。雷達物位計廠家根據自己的技術和國家認可的頻率設計產品，不同的國家對同一頻段有不同的規定，其實并沒有本質區別，不同的頻段有不同的波長，導致天線尺寸和適用材料不同，各有特點。目前，常規產品使用26GHz頻率等高頻微波，主要用于測量固體材料，天線聚焦和虛假回波聚焦性能更好，26GHz高頻微波發射時，波束角小，能量集中，在實際使用中非常重要。低頻微波物位計的波束較寬，如果物料較小或安裝不良，會收到較多內部結構產生的虛假回波。高頻微波對于相同尺寸的天線波束角更窄，容易避免內部元器件的干擾反射。

（圖源網絡）

高頻雷達物位計對液位波動產生的信號更為敏感，這是因為信號的波長更接近液位波動的幅度，因此容易形成散射，使回波信號減弱，相比之下，低頻微波受液位波動的不利影響較小。而高頻微波具有更好的聚焦性能和能量集中度，有利于信號放大。無論頻率如何，電子微波電平計單元和回波處理軟件都可以處理低幅度的回波信號，在測量固體材料時，由于材料的表面往往不是水平的，并且有一個安息角，因此必須使用微波在材料的粗糙表面上產生漫反射，以便將部分回波反射回發射天線。5.8GHZ微波的波長約為52mm，因此在測量具有休止角的毫米級顆粒和材料時，很難得到好的結果。26GHZ的高頻雷達物位計波長約11.5mm，微波也能在小顆粒表面形成漫反射，因此固體物位測量效果好。另外80G的調頻雷達物位計可以可靠地測量細小顆粒甚至粉狀物料的物位，并獲得良好的固體測量結果。

高頻雷達物位計對天線上的凝結和物質堆積更敏感，信號衰減也更大。同樣的凝結和堆積會對較小的天線產生更大的影響。對于C波段使用的低頻喇叭天線或桿式天線，基本上不受冷凝或堆積的影響。在粉塵較多的環境中，雖然高頻微波的信號衰減比低頻微波略大，但波束角小，能量相對集中。因此，可以獲得更好的效果，天線體積小，安裝使用方便。微波測量中泡沫對泡沫表面的影響視具體情況而定，取決于泡沫的類型，包括泡沫密度、介電常數和電導率。對于低密度泡沫，低頻優于高頻雷達物位計。

如果您之前對于選擇頻率問題有疑問的話，現在看完這篇文章應該有個基本認知了。無論高頻低頻，都有自己適合的工況，要“因地制宜”才是最合理的。